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                电子器◆件的理论耗散功率

                作者:管理员发表时间:2016-3-28

                电子器件的理论耗散功率

                对电子设¤备中的耗散功率应进行仔细估算,因为可靠性和平均故障间隔时间可能因元件温度过高而急剧下降.在确定元器件的耗散功率时应适当取得高些,是为了在使用 过程中温度可能▼出现波动而留些余地,也为元器件额定功率和线电压在容许范围内←的变化提 供补偿。因此,对耗散功率增加一些安全系数是十分必要的。
                在航】空航天和军事应用场合,通常将高环境温度和大热耗散情况下↓的连续使用工况作为电子设备的热设计条√件。虽然出现这种现象的概率较小或在这种工况下★的使用时间很短,但是按照这种条件设计出来的热控系统在一般情况下余量较大,为了保证电子设备工作ㄨ绝 对可靠,这种做法是必要的。在一般民用场△合,如果能对元器件的失效率和实际使用要求◎进行 充分分析评估,制订切合@实际的设计方案,则可々适当降低产品成本,减小电ξ 子设备的质量和体 积。过于保守会使规定的耗散功率远大于正常的期望值,这种情况就会增加费用、质量和体积。例如,由于有些人在确定耗散功率时太保守,可能会采用大而笨重的液体♀冷却系统来代替 简单的▃风扇。
                为了验证电子设备的热设计,就需要对许多不同条件做调查研究,例如在高空高温环♂境下,高温度可能是产生在系统的逻辑部分而不是电源部分;而在高空低温环境下电源的问题可能严重,因为在这种情况下预热所需要的加热功率大。大电流。即使是短时间的,也可 能在控制电源的电子元件中产生热点。
                航空航天和一些军用电子设备需要专门的测试装置,以模拟在外场实际使用的那些装╲置的工作条件。为了检验热设计的→有效性,模拟试验中应确保受试(模拟)电子设备与外场实际使用电子设备具有同样的功耗是十分重要的,这会减小设计耗散功率与测试耗散功率之间的 差异。